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多内核系统的非侵入式调试与性能优化
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摘要
运行在多个内核上的有效分区无缺陷软件对充分发挥多内核系统优势非常关键。调试如此复杂的软件系统会提升复杂程度,因为不能访问子系统接口、总线以及同步处理范例。有了这一点认识,开发人员需要对能够加速调试进程,克服此类复杂多内核系统制约的片上调试技术、工具与技巧有更深入的理解。
作者
Vikas Varshney
机构地区
德州仪器
出处
《中国集成电路》
2012年第10期74-76,共3页
China lntegrated Circuit
关键词
调试技术
核系统
性能优化
非侵入式
软件系统
同步处理
无缺陷
子系统
分类号
TN47 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TP332 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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中国集成电路
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