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X射线荧光光谱法测定低合金生铁中Si、Mn、P、S、Cr、Ni的应用
被引量:
1
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摘要
X射线荧光光谱法测定低合金生铁中的Si、Mn、P、S、Cr、Ni等元素的含量。通过对比分析,选择适合于低合金生铁的制样方式,建立对应的分析应用程序,达到分析测试目的。经实际生产验证:该分析方法具有分析速度快、精确度高的优点,满足了分析的需求。
作者
姚锦冰
杨玉明
蒋兴元
机构地区
宝钢德盛不锈钢有限公司制造管理部
出处
《中国高新技术企业》
2012年第23期58-60,共3页
China Hi-tech Enterprises
关键词
X射线荧光光谱法
直接抛光法
粉末压片法
低合金生铁
分类号
TG115.33 [金属学及工艺—物理冶金]
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