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评估高速IC测试系统的依据
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摘要
本文叙述了对高速IC测试系统进行评估的方法,指出了对系统的要求、衡量系统的标准及具体的应用性能。
作者
黎竞
出处
《国外电子测量技术》
2000年第3期19-20,共2页
Foreign Electronic Measurement Technology
关键词
集成电路
测试系统
半导体
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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国外电子测量技术
2000年 第3期
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