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低损耗厚膜微带隔离器

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摘要 本文报导了一个用普通钇铝石榴石材料,采用厚膜工艺制作微带电路及吸收负载的微带隔离器。同时分析了影响器件正向损耗的诸因素,使用不均匀外磁场的方法,降低了器件的损耗。实验结果:在1.9~2.3GHz 频带范围内,正向损耗≤0.25dB,反向损耗≥23dB,电压驻波比≤1.28,基片尺寸仅为24×30×2.6mm。
作者 李国康
出处 《磁性材料及器件》 CAS CSCD 1990年第2期8-10,7,共4页 Journal of Magnetic Materials and Devices
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