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晶体管图示仪负极性测量干扰分析及改进

Negative measurement interference analysis and improvement for transistor graphic instrument
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摘要 以JT-1晶体管图示仪为例,介绍此类普及型晶体管图示仪在进行负极性小电流测试时干扰过大的现象,同时通过对图示仪集电极扫描电源及极性转换部分进行电路分析并找到原因。从原理出发研究解决方案,提出制作改进电路及加入原机的方案。 In the article,based on the JT-1 transistor graphic instrument,the excessive phenomenon is introduced when the instrument is used for negative small current testing.Through the analysis of collector scanning current source and polarity conversion circuit in this instrument,the reasons is found according to the circuit principle and a solution is put forward to improve instrument performent.
作者 李大为
出处 《机械研究与应用》 2012年第5期49-51,共3页 Mechanical Research & Application
关键词 晶体管图示仪 容性电流 极性转换 transistor graphic instrument capacitive current polarity transfer
  • 相关文献

参考文献2

  • 1上海新建电子仪器厂技术情报组.JT-1型晶体管特性图示仪[J].电子技术,1966(10):52.
  • 2徐长风.JT-1型特性图示仪的原理和维修[J].电子技术,1983(8):22.

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