期刊文献+

复杂机电系统可靠性预测的一种简便实用方法

A handy and pragmatic method of the reliability prediction for the sophisticated mechanical and electrical systems
下载PDF
导出
摘要 在新产品投入生产,使用前对产品可靠性作比较精确的预测是生产方和使用方都十分关心的问题。对于系统的可靠性预测,经常采用的有数学模型法,边值法,真值表法,布尔代数法等,能够精确地预测出系统的可靠度,但对复杂系统的预测来说计算工作量都较大。分割连接组合法是一种既能达到一定预测精度又比较简便实用的系统可靠性预测法。对于复杂系统(如飞机操纵系统,动力站等)的分析比较其他可靠性预测方法来说是非常简便易行的。
作者 孙未
出处 《制造业自动化》 北大核心 2012年第22期65-67,共3页 Manufacturing Automation
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献16

  • 1李志国,李杰,郭春生,程尧海.微电子器件多失效机理可靠性寿命外推模型[J].电子产品可靠性与环境试验,2004,22(4):8-11. 被引量:7
  • 2李杰,郭春生,莫郁薇,谢雪松,程尧海,李志国.快速确定微电子器件失效激活能及寿命试验的新方法[J].Journal of Semiconductors,2005,26(8):1662-1666. 被引量:14
  • 3梁剑雄,邓水先.高可靠性的PLC控制系统的设计[J].电气应用,2005,24(9):46-48. 被引量:5
  • 4刘婧,吕长志,李志国,郭春生,冯士维.电子元器件加速寿命试验方法的比较[J].半导体技术,2006,31(9):680-683. 被引量:23
  • 5罗雯,魏建中,阳辉等.电子元器件可靠性试验工程[R].电子工业出版社.2004.
  • 6J.A. Mittereder, J.R. ROUSSOS, M. T. Karanikolas, W.T. Anderson.. Comparison Of Statistical Distributions For The Analysis Of GaAs MMIC Life Test Data. GaAs Reliability Workshop [J], Proceedings. 1997 : 54 - 61.
  • 7吴海东,莫郁薇,和张增照等.GaAs单片行波放大器的高温加速寿命测试研究[C].中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会论文集.2002:161-166.
  • 8IEC 60747-10-1996 Semiconductor Devices-Part 10:Generic Specification for Discrete Devices and Integrated Circuits.
  • 9CHOU Y C,LEUNG D,LAI R,et al.Evolution of DC and RF degradation induced by high-temperature accelerated lifetest-of pseudomorphic GaAs and InGaAs/InA1As/InP HEMT MMICs [ C] //40th Annual International Reliability Physics Symposium Dallas.Texas,2002:241-247.
  • 10GAO F,ERSLAND P. Step-stress accelerated testing in Ion-Implanted GaAs self-aligned gate MESFETs [C] .EIA,1999:11-19.

共引文献18

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部