摘要
许多年来VLSI 设计中的“十进规则”一直支配着允许的最大颗粒尺寸,例如对1.5μm 的设计,要求其颗粒不得大于0.15μm.Dr.Lou Sarto 说“为了消除致命的缺陷,随着半导体器件线宽的缩小更有必要检测愈来愈小的粒子沾污”.但是,当超纯水中允许的粒子尺寸和其总数急剧下降时,粒子数的计数和对超纯水质的评价也日益困难.颗粒的来源众所周知,超纯水中所含的杂质有细菌、无机离子、总有机碳、SiO_2和微粒等.
出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
1990年第7期47-48,F003,共3页
Microelectronics & Computer
