嵌入式存储器的测试及可测性设计研究

Research on the Test and Design for Testability of Embedded Memory

引言近年来,消费者对电子产品的更高性能和更小尺寸的要求持续推动着SoC（系统级芯片）产品集成水平的提高,并促使其具有更多的功能和更好的性能。要继续推动这种无止境的需求以及继续解决器件集成领域的挑战,最关键的是要在深亚微米半导体的设计、工艺、封装和测试领域获得持续的进步。SoC是采用IP复用技术的一种标准设计结构,在多功能电子产品中得到了广泛的应用。