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Calculation of Charged Secondary Ions from 96 MeV/u 12C6+ Ions Targeting on Different Depths of Al with Geant4

Calculation of Charged Secondary Ions from 96 MeV/u 12C6+ Ions Targeting on Different Depths of Al with Geant4
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出处 《IMP & HIRFL Annual Report》 2011年第1期114-114,共1页 中国科学院近代物理研究所和兰州重离子研究装置年报(英文版)
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参考文献3

  • 1J. W. Wilson, F. A. Cucinotta, M. H. Y. Kim, et al. , Physica Medica. , Supplement 1, (2001)67.
  • 2S. Agostinelli, J. Allison, K. Amako, et al. , Nucl. Instr. and Meth. , A506(2003)250.
  • 3L. Sihver, D. Matthia, T. Koi, et al. , New J. Phys. , 10(2008)105019.

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