摘要
可编程序逻辑阵列(以下简称PLA)是当今用得很普遍的一种电路结构,它可以实现任意组合开关函数.容易产生测试的PLA(简称ETG PLA)是作者最早提出的一种易测PLA设计.本文根据几年来国际上的评论,进一步阐述ETG电路的概念,并在统一的单故障模型的基础上推广了伪非并发和分离的概念,使硬件开销大大减少.实验结果表明了这些想法的正确性和先进性.
出处
《中国科学（A辑）》
CSCD
1990年第8期869-879,共11页
Science in China(Series A)
基金
国家自然科学基金
863高技术课题基金
