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我国在22nm CMOS关键技术先导研发上取得突破
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摘要
近日,中国科学院微电子研究所集成电路先导工艺研发中心在22nm CMOS关键技术先导研发上取得突破性进展,在国内首次采用后高K工艺成功研制出包含先进的高K/金属栅模块的22nm栅KMOSFETs,器件性能良好,达到国内领先、世界一流水平。
出处
《传感器世界》
2012年第12期47-47,共1页
Sensor World
关键词
研发中心
技术
电子研究所
中国科学院
集成电路
器件性能
突破性
金属栅
分类号
TN432 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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