电离层高频斜向探测技术与选频应用

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摘要电离层探测是研究电离层特性和进行短波选频的重要手段之一，随着科学技术发不断发展，人类发明了各种各样的电离层探测方法，而电离层高频斜向探测，就是这众多探测方法中重要的一种。介绍了电离层斜向探测的基本原理、斜测电离图及应用，同时也对这种探测方法的优点和局限性进行了评述．

作者卢华平李斌王方超

机构地区镇江船艇学院

出处《商情》 2013年第1期152-152,共1页

关键词高频斜向探测斜测电离图选频优点和局限

参考文献3

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商情

2013年第1期

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