NIDays 2012再掀测试测量领域新浪潮记NIDays 2012全球图形化系统设计盛会中国站

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摘要 2012年11月16日．由美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）举办的一年一度的“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站在北京万达索菲特大饭店圆满落幕。本届NIDavs吸引了近千名来自不同行业的工程帅和二十多家行业媒体到会．通过精心挑选的技术讲座、最新的产品与创新啦用展示、精彩的互动交流等环节，

作者王伟

机构地区《电子技术应用》编辑部

出处《电子技术应用》北大核心 2013年第1期1-1,共1页 Application of Electronic Technique

关键词图形化测试测量 INSTRUMENTS 中国设计系统美国国家仪器有限公司新浪

分类号 TN929.533 [电子电信—通信与信息系统]

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