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基于COM架构的芯片试验设计与实现

Design & Implement of Chip Test Based on COM Architecture
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摘要 COM技术在软件领域有着很广泛的应用。以芯片试验为例,阐述了基于COM架构的试验设计方法。通过上位机控制试验设备的功能,调度实验设备的任务。 The COM technology is used widely in software area, Use the application of chip test to expatiate the test methods based on COM architecture. Using PC to control test devices' function, we can adjust test devices' task.
作者 尹冀波
出处 《微处理机》 2012年第6期81-82,86,共3页 Microprocessors
关键词 COM架构 芯片试验 微处理器 COM Chip test Microprocessor
  • 相关文献

参考文献3

  • 1李朝青.单片机原理及接口技术[M]北京:北京航空航天大学出版社,1999.
  • 2潘爱民.COM原理与应用[M]北京:清华大学出版社,2000.
  • 3刘晓华.精通MFC[M]北京:电子工业出版社,2003.

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