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光电检测技术应用半导体激光管的新进展 被引量:1

Recent Advances in Semiconductor Laser Diodes for Applications in Optoelectronic Measuring Techniques
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摘要 综述了近年来在光电测厚、测速、测距、测浓度、测表面质量等方面应用半导体激光管的新进展。这些成就展示了采用半导体激光管后对仪器小型化、仪器进入生产线监控过程的前景。 Recent advances in Semiconductor laser diodes for applica- tions,in measurements of thickness,distance,velocity,optical surface and gas concentration by optoelectronic methods are reviewed.These advances show a bright future of miniaturization of in-process optoelectronic instru- ments and sensors.
作者 缪家鼎
机构地区 浙江大学
出处 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1991年第4期337-341,共5页 Semiconductor Optoelectronics
关键词 半导体激光管 光电检测 Semiconductor Laser Diode Optoelectronic Measuring Technique.
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