半导体器件失效率的讨论

1.失效率定义 失效率是表征半导体器件可靠性的最重要指标之一。它以字母λ(t)表示,它表示半导体器件工作到时刻t的条件下,单位时间内的失效概率。失效率有三种表示单位:一是每小时10的负几次方,例如1×10^(-6)/小时,国内常以此单位表示;二是每小时的百分数(％/小时)或每千小时的百分数(％/千小时);三是Fit(菲特),1Fit=1×10^(-9)/小时,即10亿个元器件每小时内只允许1个半导体器件失效。