期刊文献+

HID灯镇流器中UniFET Ⅱ MOSFET的性能和效率

Performance and Effectiveness of UniFETTM Ⅱ MOSFET in HID Lamp Ballast
下载PDF
导出
摘要 先进的单元结构和寿命控制技术已同时增强了功率MOSFET的导通电阻和反向恢复性能。本文介绍一种新开发的平面MOSFET—UniFETTM Ⅱ MOSFET—具有显著提高的体二极管特性,另外还介绍了其性能和效率。根据寿命控制的集中程度,UniFET Ⅱ MOSFET可分为普通FET、FRFET和Ultra FRFET MOSFET,其反向恢复时间分别为传统MOSFET的70%、25%和15%左右。为了验证全新MOSFET的性能和效率,用带混频逆变器的150W HID灯镇流器进行了实验。结果证明,两个UniFET Ⅱ MOSFET可取代两个传统MOSFE和四个附加FRD,并且无MOSFET故障。
出处 《电子产品世界》 2013年第2期15-20,共6页 Electronic Engineering & Product World
  • 相关文献

参考文献17

  • 1Choi W-S,Young S-M,Kim D-W. Analysis of MOSFET failure modes in LLC resonant converter[A].2009.1-6.
  • 2Busatto G,Fioretto O,Patti A. Non-destructive testing of power MOSFET's failures during reverse recovery of drain-source diode[A].1996.593-599.
  • 3Fiel A,Wu T. MOSFET failure modes in the zero-voltage-switched ful-bridge switching mode power supply applications[A].2001.1247-1252.
  • 4Blackburn D.L. Power MOSFET failure revisited[A].1998.681-688.
  • 5Burra R.K,Shenai K. CoolMOS integral diode:a simple analytical reverse recovery model 2003[A].2003.834-838.
  • 6Chimento F,Musumeci S,Raciti A,Melito M,Sorrentino G. Super-Junction MOSFET and SiC Diode Application for the Ef iciency Improvement in a Boost PFC Converter[A].2006.2067-2072.
  • 7Sakakibara J,Noda Y,Shibata T,Nogami S,Yamaoka T,Yamaguchi H. 600V-class Super Junction MOSFET with High Aspect Ratio P/N Columns Structure[A].2008.299-302.
  • 8Yeon J.E,Kim C.K,Jung M.S,Kim W.T,Cho K.M,Kim H.J. Ef ectiveness of FRFET? MOSFETs for the CCFL inverters in LCD TVs[A].2008.1351-1355.
  • 9Singh P. Power MOSFET failure mechanisms[A].2004.499-502.
  • 10Jung J,Li X. Analysis of the MOSFET Failure In a Junction-Isolated Power Integrated Circuit[A].2007.249-252.

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部