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国外半导体微细加工设备发展动向

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摘要 1 曝光设备 由于集成电路由1M向16M进而向256M的方向发展,要求图形线宽跟着进一步缩小。以前较为流行的看法是光学曝光只能用到1μm,进入亚微米以后必须使用电子束等其它曝光技术,但是随着准分子激光光源的出现。光学曝光已突破1μm的禁区。因此。
作者 吴健昌
机构地区 机电部
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1991年第3期47-53,共7页 Semiconductor Technology
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