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国外半导体微细加工设备发展动向
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摘要
1 曝光设备 由于集成电路由1M向16M进而向256M的方向发展,要求图形线宽跟着进一步缩小。以前较为流行的看法是光学曝光只能用到1μm,进入亚微米以后必须使用电子束等其它曝光技术,但是随着准分子激光光源的出现。光学曝光已突破1μm的禁区。因此。
作者
吴健昌
机构地区
机电部
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1991年第3期47-53,共7页
Semiconductor Technology
关键词
加工设备
微电子学
半导体
分类号
TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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半导体技术
1991年 第3期
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