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半导体外壳引线镀镍层的孔隙及脆性对引线断裂的影响
被引量:
1
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摘要
本文通过在可伐引线表面分别电镀氨基磺酸镍及瓦特镍的方法,讨论了镀层孔隙及脆性对可伐引线应力腐蚀的影响,通过实验验证了瓦特镍层脆性的原因,并在此基础上提供了改善镍层脆性的一种办法。
作者
李友国
机构地区
清华大学
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1991年第6期17-19,61,共4页
Semiconductor Technology
关键词
半导体器件
外壳
引线
镀镍
断裂
分类号
TN305.93 [电子电信—物理电子学]
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半导体技术
1991年 第6期
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