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半导体外壳引线镀镍层的孔隙及脆性对引线断裂的影响 被引量:1

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摘要 本文通过在可伐引线表面分别电镀氨基磺酸镍及瓦特镍的方法,讨论了镀层孔隙及脆性对可伐引线应力腐蚀的影响,通过实验验证了瓦特镍层脆性的原因,并在此基础上提供了改善镍层脆性的一种办法。
作者 李友国
机构地区 清华大学
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1991年第6期17-19,61,共4页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

参考文献3

  • 1《电镀与精饰》第12卷总目录[J]电镀与精饰,1990(06).
  • 2童修强,张弓,马莒生,唐详云.用于半导体外壳电镀的低应力镍的可行性探讨[J]电镀与精饰,1988(06).
  • 3李友国,马莒生,陈祖芳,唐详云.稳定奥氏体合金(Ni29Co18余Fe)在含Cl~-水溶液中应力腐蚀开裂特性[J]中国腐蚀与防护学报,1985(01).

同被引文献2

  • 1李荣焕.中小功率半导体管引线断裂因素的探讨[J]半导体技术,1988(02).
  • 2"图谱"编审组,.电子材料与器件失效分析显微组织图谱[M]中国标准出版社,1985.

引证文献1

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