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全反射X射线荧光分析技术在核科学领域中的应用 被引量：3

Application of TXRF Analysis in Nuclear Science
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摘要 全反射X射线荧光(TXRF)分析是一种较先进的核分析技术,论文在回顾TXRF分析技术发展历程的基础上,扼要介绍了该项分析技术的基本原理、仪器组成、特点及应用。重点介绍了它在核科学领域中的应用,并对其在该领域的应用进行了展望。 Total reflection X - ray fluorescence （TXRF） analysis is an advanced nuclear analysis technology. In the paper, the course of development is reviewed, the principle 、 instrument structure 、characteristic and application of TXRF is introduced, The emphases is to expound the application and the prospect of TXRF in nuclear science.
作者 乔亚华 杨阳 王博 郑维明 金立云
机构地区 环境保护部核与辐射安全中心 中国原子能科学研究院
出处 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 2012年第11期1263-1268,共6页 Nuclear Electronics & Detection Technology
关键词 全反射X射线荧光分析 分析 核科学 TXRF analysis nuclear science
分类号 O43 [机械工程—光学工程]
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共引文献9

同被引文献12

引证文献3

二级引证文献3

核电子学与探测技术
2012年 第11期

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