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特性阻抗控制精度——达到下一代测量能力
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摘要
对高密度多层 PCB 的要求是连续地把线宽和间距的要求推向极限,而阻抗公差控制在±10%到±5%范围之内,为了达到这种具有高成品率的公差,显影、刻蚀和去膜(DES)
作者
Rob Copdand
高春生
出处
《印制电路信息》
2000年第9期37-39,共3页
Printed Circuit Information
关键词
特性阻抗
控制精度
PCB
分类号
TN41 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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印制电路信息
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