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不掺杂In_2O_3透明导电薄膜的制作

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摘要 采用反应蒸发技术制作不掺杂 In2O3透明导电薄膜,薄膜厚度为 150~200 nm、方块电阻为60~200 、透光率为80%~94%(波长600 nm)。讨论了蒸发过程氧气充入量和蒸发时间对薄膜的光电特性的影响,说明低蒸发速率和限制氧气流量是获得优质薄膜的关键。
作者 蒋正萍
出处 《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 2000年第4期282-284,共3页 Microelectronics
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