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EL结构的界面粗糙度对器件性能的影响

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摘要 为了加深对薄膜电致发光器件的物理性质的理解,本文就相邻介质的粗糙度对器件电气性能的影响了研究。原子力显微镜分析表明:底层的Ta2O5厚度越大,其表面就越粗糙,导致ZnS:Pr,Ce表面的粗糙度增加。更重要的是增加Ta2O5薄膜表面的粗糙度,降低了由Poole-Frenkel电流而产生的初始场强。对ITO-Ta2O5-ZnS:Pr,Ce-A1和ITO-Ta2O5-ZnS:Pr。
作者 卢有祥
出处 《光电技术》 2000年第2期70-74,共5页
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