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非恒定环境光条件下的相位测量剖面术 被引量:14

Phase- Measuring Profilometry in Non-Constant Environmental Light
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摘要 在野外运用相位测量剖面术 (PMP)测量物体三维面型时 ,环境光场经常发生变化 ,从而严重影响测量精度。分析了环境光场发生变化对相位测量剖面术的影响 ,并提出了一种对 CCD摄像机获取的条纹图像进行灰度校正的方法。经过校正处理 ,环境光的影响被大幅度抑制 ,提高了测量精度。 The accuracy of phase- measuring profilometry( PMP) is greatly influenced by the environmental light,especially in the outside of the room.The error caused by the change of the environmental lightis analyzed.A method to calibrate the grey scale of the fringe pattern acquired by the CCD camera is presented.By using the method,the error is greatly re- strained.
出处 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第5期617-623,共7页 Acta Optica Sinica
基金 国家自然科学基金资助课题
关键词 相位测量剖面术 环境光 灰度校正 phase- measuring profilometry, environmental light, grey scale calibrate
  • 相关文献

参考文献4

  • 1Zhou Wensen,J Mod Opt,1994年,41卷,1期,89页
  • 2Su Xianyu,Opt Commun,1993年,98卷,1/3期,141页
  • 3Cheng Xiaoxue,Appl Opt,1991年,30卷,10期,1274页
  • 4Li Jian,Opt Eng,1990年,29卷,12期,1439页

同被引文献114

引证文献14

二级引证文献69

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