EBIC测定GaPLPE样片的少子扩散长度
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2000年第4期581-582,共2页
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
-
1李海雁,杨锡震.利用EBIC测定GaP LPE样片的少子扩散长度[J].云南大学学报(自然科学版),2005,27(S3):580-582.
-
2杨锡震,李永良.正交配置EBIC的线形[J].电子显微学报,2000,19(4):579-580. 被引量:1
-
3李永良,杨锡震,周艳,王亚非.EBIC测定GaP的少子扩散长度和表面复合速度[J].北京师范大学学报(自然科学版),2001,37(1):62-65.
-
4夏银水,宋加涛,张秀淼.用表面光压(SPV)法确定异型外延材料中的少子扩散长度[J].杭州大学学报(自然科学版),1991,18(2):185-189.
-
5刘岩,高博静.用电子束生电流像观测PN结的形貌[J].辽宁大学学报(自然科学版),1991,18(2):62-64.
-
6李济洪,陈萌萌,杨杏丽.高维回归中基于组块3×2交叉验证的调节参数选择[J].云南师范大学学报(自然科学版),2015,35(3):27-32.
-
7褚幼令,王宗欣,刘瑞林,左文德.用微波光电导谱研究半导体薄片的少子扩散长度和表面复合速度[J].Journal of Semiconductors,1990,11(10):751-758. 被引量:2
-
8CHEN ZeHua,CHEN JiaHua.Tournament screening cum EBIC for feature selection with high-dimensional feature spaces[J].Science China Mathematics,2009,52(6):1327-1341.
-
9半导体光学材料及制备[J].中国光学,1994(2):88-92.
-
10Yu HAN,Ying-hua JIN,Min CHEN.Empirical Likelihood-Based Subset Selection for Partially Linear Autoregressive Models[J].Acta Mathematicae Applicatae Sinica,2013,29(4):793-808. 被引量:1
;