薄膜形貌的AFM观察被引量：9

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作者张平余刘维民薛群基

出处《电子显微学报》 CAS CSCD 2000年第4期593-594,共2页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society

基金国家自然科学基金资助项目 !(5 9735 110 )

关键词薄膜形貌 AFM 纳米材料

同被引文献139

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2000年第4期

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