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天然金刚石晶体中层错的X射线形貌研究

X-RAY DIFFRACTION TOPOGRAPHY STUDY ON STACKING FAULT IN NATURAL DIAMOND
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摘要 利用 X射线形貌术 Lang法对辽南天然金刚石晶体中层错进行了研究 ,详细讨论其层错类型 ,确定层错面及其矢量。 X ray diffraction topography technique was used to study stacking fault in natural diamond found in northeast China. A detailed discussion was made to the stacking fault types, their planes and the characteristic vectors were determined.
出处 《理化检验(物理分册)》 CAS 2000年第1期18-20,共3页 Physical Testing and Chemical Analysis(Part A:Physical Testing)
关键词 X射线衍射形貌术 天然金刚石 位错 层错 X ray diffraction topography Natural diamond Dislocation Stacking fault
  • 相关文献

参考文献5

  • 1WoodsGS.LangAR.JCrystalGrowth,1975,28:215-226
  • 2柯列迪BD.X射线金属学[M].北京:中国工业出版社,1965.81-86.
  • 3上海冶金研究所X射线实验室泽.国外测试新技术.上海科学技术情报研究所,1974.32
  • 4Tanner B K.X-ray Diffraction Topography.Great Britian.Pergamon Press.1976.100
  • 5HornstraJ,PhysJ.ChemSolids,1958,5:129

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