期刊文献+

新研究揭示塑料半导体中电荷陷阱的形成机制

下载PDF
导出
摘要 塑料半导体给低成本、大批量生产电子器件带来了希望,但其有一个重要的缺陷:电流会受到材料中电荷陷阱的影响。据物理学家组织网报道,荷兰格罗宁根大学和美国佐治亚理工学院的研究团队通过最新研究揭示了隐藏在这些陷阱下的通用机制,并提供了一个理论框架来设计没有陷阱的塑料电子器件。研究结果提前发表于《自然·材料》杂志网络版。
出处 《功能材料信息》 2012年第5期49-49,共1页 Functional Materials Information
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部