摘要
大量实践表明,在位企业会出现破坏性创新和维持性创新共存的现象。以"突触"为原型建立了在位企业的破坏性创新双通道突触模型,该模型较好地描述了在位企业两种创新之间的竞争机制。以双通道突触模型为基础,分析了组织长时记忆和组织交互记忆的运行过程,构建了在位企业的组织记忆模型,并指出组织记忆对在位企业破坏性创新的影响,最后提出了在位企业克服组织记忆的措施,以增加破坏性创新的成功几率。
出处
《科技进步与对策》
CSSCI
北大核心
2013年第5期85-89,共5页
Science & Technology Progress and Policy
基金
国家自然科学基金资助项目(71271063)
国防科技工业技术基础科研计划项目(GZ2011010)
黑龙江省自然科学基金项目(G201121)