摘要
本文提出了一种测量子电路参数的新方法 .通过将待测子电路的影响视为系统误差 ,再经过校准过程而消除之 .此方法无需拆下子电路 ,因此精度高 ,操作简便 .
In this paper, a new method for measuring the parameters of sub circuit is introduced. With the aid of calibration, the S parameters of the sub circuit can be measured while the sub circuit need not be separated from the main circuit.$$$$
出处
《南开大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
北大核心
2000年第2期119-120,共2页
Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Nankaiensis
