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某型导弹用测温电路低温故障分析

Failure Analysis of Temperature Measurement Circuitin Cold Climate Condition
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摘要 针对某型导弹用测温电路低温测试温度跳变故障,从原理上分析了故障产生的原因,采用试验及理论分析相结合的方法,找到了解决该故障的措施,对光电耦合器低温测试方法进行了改进,消除了故障隐患,提高了产品质量。 By analyzing the working principle of the missile temperature measurement Circuit,analyze the failure reason of it in cold climate condition:By experimentation and principle analyzing,the measure to avoid failure is found.The hidden trouble to failure is removed,through improving the testing method of photoelec- tric coupler.The quality of product is improved.
出处 《电子质量》 2013年第4期92-95,共4页 Electronics Quality
关键词 测温电路 低温 光电耦合器 temperature measurement Circuit Cold Climate Condition photoelectric coupler
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