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集成门电路实验常见故障的成因及查找方法

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摘要 通过自身实验教学实践,总结出集成门电路实验中一些常见故障的成因及查找方法。
作者 秦绪玲
出处 《教学仪器与实验》 2013年第4期26-28,共3页 Teaching Instruments and Experiments
  • 相关文献

参考文献2

  • 1周良全,方向乔.数字电子技术基础[M].北京:高等教育出版社,2002:61-62.
  • 2高泽涵.电子电路故障诊断技术[M].西安:西安电子科技大学出版社,2001:76.

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