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桶式外延炉吹扫工艺改善外延层电阻率均匀性的研究
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摘要
随着硅外延片在器件制造领域应用的不断扩展,对用于制作器件的外延片的要求也越来越高,其中最重要的是准确控制外延层电阻率及其均匀性。由于衬底自掺杂与系统杂质因素的影响,使得外延层电阻率的控制十分困难,同时电阻率均匀性也大大降低。通过对外延生长过程中外延层表面气体边界层的原理进行分析,提出了变流量吹扫工艺,减少边界层中杂质浓度,制备出电阻率均匀性好的外延片。
作者
王文林
薛兵
殷海丰
机构地区
中国电子科技集团公司第四十六研究所
出处
《甘肃科技》
2013年第6期34-36,共3页
Gansu Science and Technology
关键词
变流量吹扫
硅外延
电阻率
边界层
自掺杂
分类号
TM23 [一般工业技术—材料科学与工程]
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