摘要
在 ICF靶参数测量中 ,用接触 X射线显微辐射照相法记录微球 X射线图像 ,采用精密表面轮廓仪处理微球 X射线图像 ,直接测量了单层微球壁厚。与光干涉法比较 ,两种方法测量结果相差小于 0 .3 μm。
The X ray radiography technique for measurement of ICF targets. Record film images of microspheres using contact microradiography. Analysis the X ray images using surface profiler, direct measuring the wall thickness of single wall microsphere. Comparsed this measurement with the optical interferometric measurement and found measurement differences <0.3μm.
出处
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2000年第1期69-71,共3页
High Power Laser and Particle Beams
基金
国家 8 63惯性约束聚变领域资助课题
关键词
X射线法
ICF靶
表面轮廓法
X ray radiography technique
ICF target
surface profiler
