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MESFET的源漏电压和旁栅间距对旁栅阈值电压的影响

Effect of MESFET VDS and distance of sode-gates on side-gating threshold voltage
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摘要 研究了MESFET的源漏电压对旁栅阈值电压的影响和旁栅间距与旁栅阈值电压的关系。结果表明源漏电压的大小对旁栅阈值电压有一定的影响,旁栅阈值电压的大小与旁栅间距大致成正比。 Effect of MESFET VDS on the side- gating threshold voltage and the relationship between the distance of the side- gates and the side- gating threshold voltage was investigated. The results show that the VDS has some effect on the side- gating threshold voltage and the side- gating threshold voltage has a direct relationship to the distance of the side- gates almost.
出处 《功能材料与器件学报》 CAS CSCD 2000年第3期186-189,共4页 Journal of Functional Materials and Devices
基金 国家自然科学基金!(批准号:69676003)
关键词 砷化镓 MESFET 旁栅阈值电压 源漏电压 旁栅间距 GaAs MESFET Side- gating effects Side- gating threshold voltage
  • 相关文献

参考文献3

  • 1Li I M,J Appl Phys,1990年,67卷,12期,15页
  • 2Fu S T,IEEE Trans ED,1987年,34卷,1245页
  • 3Chang M F,Appl Phys Lett,1984年,44卷,869页

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