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泰克在2013英特尔信息技术峰会(IDF)上展示业界完整、灵活的高速串行信号测试解决方案
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摘要
2013年4月10日泰克公司宣布,在4月10日-11日于北京中国国家会议中心举办的2013英特尔信息技术峰会(IDF)上展示业界完整、灵活的高速串行信号测试解决方案,为高速数据设计人员解决USB3.0、PCIe Gen3/4、SATA等高速串行信号测试带来的挑战,并大幅缩短测试和调试时间。
出处
《国外电子测量技术》
2013年第4期80-81,共2页
Foreign Electronic Measurement Technology
关键词
英特尔信息技术峰会
测试解决方案
串行信号
泰克公司
设计人员
高速数据
SATA
测试带
分类号
TN929.533 [电子电信—通信与信息系统]
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国外电子测量技术
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