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最新型的颗粒分析仪 Sedi Graph 5100
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作者
黄滔
出处
《国外分析仪器技术与应用》
1989年第1期83-85,共3页
Foreign Analytical Instrumentation
关键词
颗粒分析仪
Sedi
GRAPH
5100
分类号
TH744 [机械工程—光学工程]
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1
余大伟,吕国芳,章回.
NSY—3型宽域智能颗粒分析仪[J]
.电子测量技术,2002,25(5):17-18.
2
刘东风,石新发,周志才.
润滑油中磨粒的X-荧光能谱测试方法研究与应用[J]
.润滑与密封,2015,40(5):94-97.
被引量:4
国外分析仪器技术与应用
1989年 第1期
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