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电子封装板级冲击、振动行为表征及焊点失效特征分析
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摘要
微电子封装技术不断向高密度方向发展,板级焊点尺寸不断减小,抵抗力学载荷能力大幅下降。迅猛发展的移动便携设备、汽车电子的内部元器件极易遭受冲击、振动等载荷作用,为板级封装焊点的力学可靠性带来了新的挑战。
作者
刘洋
孙凤莲
机构地区
哈尔滨理工大学
出处
《机械制造文摘(焊接分册)》
2013年第1期29-31,共3页
Welding Digest of Machinery Manufacturing
关键词
微电子封装技术
失效特征
焊点
振动
板
表征
行为
载荷能力
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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机械制造文摘(焊接分册)
2013年 第1期
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