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IC生产中关键参数SPC管理方法的探究
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摘要
随着IC产业日新月异的发展,IC产品的生产工艺也日益复杂化,如何做好这复杂工艺过程的SPC管理是一个非常值得探究的问题。文章以实际数据为例,用不同方法对IC生产中关键参数的SPC管理方法包括控制图的选用、控制界限及过程能力指数的计算方法等进行了分析和探究。
作者
王红芳
机构地区
上海华虹NEC电子有限公司品管部
出处
《中国高新技术企业》
2013年第15期46-48,共3页
China Hi-tech Enterprises
关键词
IC生产
关键参数
SPC控制图
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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