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IC生产中关键参数SPC管理方法的探究

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摘要 随着IC产业日新月异的发展,IC产品的生产工艺也日益复杂化,如何做好这复杂工艺过程的SPC管理是一个非常值得探究的问题。文章以实际数据为例,用不同方法对IC生产中关键参数的SPC管理方法包括控制图的选用、控制界限及过程能力指数的计算方法等进行了分析和探究。
作者 王红芳
出处 《中国高新技术企业》 2013年第15期46-48,共3页 China Hi-tech Enterprises
  • 相关文献

参考文献3

  • 1戴姆勒克莱斯勒,福特汽车公司,通用汽车公司.统计过程控制(SPC第二版)[M].2005.
  • 2.常规控制图(GB/T4091.2001idtISO8258:1991)[S].国家质量技术监督局,2001.
  • 3六西格玛核心教程黑带读本[M].北京:中国标准出版社.2002.

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