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Java卡平台测试策略

Strategy of Java CardPlatform Test
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摘要 本文基于Java卡测试库平台TCK工具,对Java卡测试的关键技术进行了深入分析和研究,提供了拓展Java卡测试案例的一种具体实现。本文详细描述了Java卡测试平台运行的系统架构及工作流程,进行了深入的分析,并讨论了为提高Java卡测试案例的全面性和灵活性所采取的策略。实践结果表明,该测试案例拓展方法可高效灵活地提高Java卡平台测试的质量。 This article, based on TCK which is a Java test platform, has a deep research on the Java test technology and provides a method of enlarging the test scope of Java card test. This article gives a detailed description and deep analysis to the system architecture and function flow of Java card test platform, and a discussion of the method to enhance the comprehension and flexibility of Java test.The factual result is that this method can improve the quality of Java card test effectively and swiftly.
作者 周斌
出处 《中国集成电路》 2013年第7期37-41,共5页 China lntegrated Circuit
关键词 JAVA卡 智能卡 测试平台 测试案例 Java card smart card test platform test suites
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参考文献1

  • 1Sun Microsystem. Java CardTM Technology Compatibility Kit 2.2.2[M].User' s Guide,.

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