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VJ Electronix在NEPCON China上展出获奖的Vertexll X射线检测系统
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摘要
VJ Electronix有限公司将在NEPCONSouthChina2013的Kasion展位（1H43）上展出全新的VertexII下一代X射线技术及高性能SRT Micra返修平台。
出处
《现代表面贴装资讯》
2013年第3期28-28,共1页
Modern Surface Mounting Technology Information
关键词
X射线检测系统
X射线技术
SRT
返修
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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