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AppleⅡ机与TP—801机组成的两级工业检测系统

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摘要 该检测系统解决了TP—801系列单板机在工业检测时存在的几种缺点。充分利用了Apple Ⅱ机的软件、硬件资源,并可扩大应用范围。文中重点介绍了两级工业检测系统的设计。
出处 《电测与仪表》 北大核心 1991年第11期16-18,共3页 Electrical Measurement & Instrumentation
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