期刊文献+

行波管阴极的寿命试验

Life Test Studies on TWT-Cathodes
下载PDF
导出
摘要 微波器件的寿命往往取决于阴极的寿命,做好阴极寿命的测试是非常必要的。本文选择了常规寿命试验的方式,采用了阳控枪和水冷收集极的短管结构,在阴极工作温度1020℃、脉冲工作比10%、初始发射电流6A/cm2电流密度的状态下,进行行波管阴极寿命试验。截止目前,该试验还在进行中,累积寿命时间达8200h。 Generally, microwave device's life lies on its cathode^s life. It is very necessary to study the life of cathode. In this paper, the general life test method was adopted. The beam tube with anode-control gun and water-cooling collector works under 1020"C cathode temperature, current density of 6 A/cm2 and duty cycle of 10~. The life test is still in progress which has acuumulated 8200 h.
出处 《真空电子技术》 2013年第3期54-56,共3页 Vacuum Electronics
关键词 行波管 阴极寿命 短管结构 常规寿命试验 TWT, Cathode Life, Brief tube Structure, General life test
  • 相关文献

参考文献1

  • 1Akira Chiba, Yasuhiro Akiyama. Life Test of 411MCathode for Highly- Reliable Satellite TWTs [J]. AppliedSurface Science, 1999,146 : 120 — 125.

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部