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微电子技术中的冶金学问题
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摘要
半导体元器件在工作时会释放出大量的热,必须将热从元器件的工作区域传导出去。半导体晶片被连接在金属引线框架材料(一般是铜、铜金、或多层金属混合结构),产生的热量从元器件封(装)壳内排出。封壳内半导体元件的连接需采用低烙点钎焊或导电的环氧树脂(一般为加银环氧树脂材料)。这些材料为消除热量提供导热和导电的通道,并且按要求接地。既使这样。
作者
John M.Parsey
Jr.
黄元恒
出处
《上海钢研》
2000年第3期9-10,共2页
Journal of Shanghai Iron and Steel Research
关键词
微电子技术
冶金学问题
晶片连接
分类号
TN401 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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