期刊文献+

测试驱动的嵌入式开发与实践 被引量:1

Test Driving Development in the Embedded System
下载PDF
导出
摘要 测试驱动开发是与传统程序开发方式相反的一种新型程序设计方法。它以测试编码来推动程序设计,大幅缩减了设计和编码的冗余度,比传统测试方法增加了可用性、延伸性以及可维护性。文中针对嵌入式开发系统的特点,通过对测试驱动开发机制的深入探讨,总结出了嵌入式系统测试驱动开发的策略。 Test driven development(TDD) is a new method in contrast to the traditional development mode of program design methods.The program design is driven by code testing,thus greatly reducing the design and coding redundancy.It has better availability,extensibility and maintainability than the traditional test methods.The test driven development mechanism is discussed in depth,and the strategies of the embedded system test driven development are summarized.
作者 齐山松 姬进
出处 《电子科技》 2013年第8期185-187,共3页 Electronic Science and Technology
关键词 测试驱动开发 嵌入式开发 单元测试 敏捷开发 TDD embedded development unit test agile software development
  • 相关文献

参考文献3

  • 1JAMES W G.测试驱动的嵌人式C语言开发[M].尹哲,译.北京:机械工业出版社,2012.
  • 2KENT B. Test driven development: by example [ M] . MAUSA: Addison - Wesly Reading,2002.
  • 3JAMES W G. Embedded test driven development cycle [C].Embedded Systems Conference Submissions, 2009.

同被引文献2

引证文献1

二级引证文献3

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部