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S参数测量中针对夹具或探头的新一代去嵌方法 被引量:2

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摘要 1 S参数测量中何时需要去嵌? 对于相当多的被测试产晶,如接插件、使用插槽的电路板等,都需要使用专门的夹具才能进行S参数测试。这是因为这些被测件的接口通常是非SMA或者BNC等通用接口类型的,而S参数测试仪器如SPARQ、VNA等仪器的连接接口通常都是SMA或者BNC等标准类型的,因此,被测件和测试仪器的连接需要辅助夹具:如图1所示,
作者 胡为东
机构地区 Teledyne LeCroy
出处 《中国集成电路》 2013年第8期79-84,共6页 China lntegrated Circuit
  • 相关文献

参考文献2

  • 1http://www.google.com.hk/patents/US20120323505?dq=Peter+++Time+Domain+Gating+++SPARQ&hl=en&sa=X&ei=D83iUYzyAofokAX08IEo&ved=0CDYQ6A EwAA .
  • 2Dr.Alan Blankman,TeledyneLeCroy..1[]..

同被引文献13

引证文献2

二级引证文献3

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