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S参数测量中针对夹具或探头的新一代去嵌方法
被引量:
2
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摘要
1 S参数测量中何时需要去嵌? 对于相当多的被测试产晶,如接插件、使用插槽的电路板等,都需要使用专门的夹具才能进行S参数测试。这是因为这些被测件的接口通常是非SMA或者BNC等通用接口类型的,而S参数测试仪器如SPARQ、VNA等仪器的连接接口通常都是SMA或者BNC等标准类型的,因此,被测件和测试仪器的连接需要辅助夹具:如图1所示,
作者
胡为东
机构地区
Teledyne LeCroy
出处
《中国集成电路》
2013年第8期79-84,共6页
China lntegrated Circuit
关键词
参数测量
夹具
探头
测试仪器
接口类型
连接接口
参数测试
标准类型
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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http://www.google.com.hk/patents/US20120323505?dq=Peter+++Time+Domain+Gating+++SPARQ&hl=en&sa=X&ei=D83iUYzyAofokAX08IEo&ved=0CDYQ6A EwAA .
2
Dr.Alan Blankman,TeledyneLeCroy..1[]..
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中国集成电路
2013年 第8期
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