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光学面形检测仪
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摘要
该仪器采用相移式横向剪切干涉技术,是一种数字波面测试技术.其原理是将相干两个剪切波面中的一个波面作阶梯式或连续变化,从而使干涉场中的干涉条纹作阶梯式或连续式扫描,用CCD相机获取干涉场中各点的光强,利用图像中各点光强的变化关系,求出被测波面的位相信息或波面面形.由于横向剪切干涉技术是利用被测波面自身实现干涉的。
作者
苗静
出处
《西安工业大学学报》
CAS
2013年第7期602-602,共1页
Journal of Xi’an Technological University
关键词
面形
检测仪
剪切波面
光学
干涉技术
横向剪切
CCD相机
连续变化
分类号
TH74 [机械工程—光学工程]
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西安工业大学学报
2013年 第7期
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