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单片机测控系统中抗干扰技术应用浅析 被引量:1

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摘要 单片机在工业过程的测控系统中面临的环境比较复杂,容易受到来自现场的各种干扰,严重的甚至会导致整个系统瘫痪,因此分析其产生的原因。并且采用相应的软、硬件措施进行相应的事前预防和事后补偿就显得尤为重要,本文在分析了干扰源产生及其传播的方式的前提下。通过从软、硬件两个方面入手。尽可能较为系统的介绍了抗干扰的各种方法。并且具有一定的实践性和可操作性。
作者 熊强强
机构地区 南昌理工学院
出处 《魅力中国》 2013年第17期129-129,共1页
  • 相关文献

参考文献3

  • 1孙传友.测控系统原理与设计[M]北京:北京航空航天大学出版社,2004.
  • 2何希才.传感器及其应用电路[M]北京:电子工业出版社,2001.
  • 3李华.MCS-51系列单片机实用接口技术[M]北京:北京航空航天大学出版社,1999.

同被引文献4

引证文献1

二级引证文献2

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