吉时利仪器公司全新推出半导体特性分析系统
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2000年第6期60-60,61,共2页
Semiconductor Technology
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1Keithley Inc.用低噪声4200-SCS半导体特性分析系统进行超低电流测试[J].电子质量,2003(2):7-9.
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2吉时利为改良的脉冲测试发布新版测试软件[J].电子测试,2007(1):109-109.
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3吉时利为改良的脉冲测试发布新版测试软件[J].电子工业专用设备,2006,35(12):70-71.
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4吉时利公司发布新产品[J].通信世界,2008(1).
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5吉时利推出脉冲式半导体器件特性测量方案[J].电子测试（新电子）,2005(9):108-108.
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6Jian Huang Linjun Wang Run Xu Weimin Shi Yiben Xia.Effects of Homo-buffer Layer on Properties of Sputter-deposited ZnO Films[J].Journal of Materials Science & Technology,2009,25(5):691-694. 被引量：1
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7邓叶,王晓东,朱彦旭,曹伟伟,刘飞飞,杜志娟,于宁.Ag/Au与n-ZnO的欧姆接触特性的研究[J].光电子．激光,2014,25(8):1511-1515. 被引量：1
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84200-SCS：脉冲式半导体器件特性测量方案[J].世界电子元器件,2005(9):83-83.
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94200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能[J].今日电子,2007(11):107-107.
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10吉时利集成最新C—V模块及软件，4200-SCS系统实现更快速、简单和经济的C—V／I—V／脉冲测试[J].国外电子测量技术,2007,26(11):24-24.
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