摘要
本研究中,在单试次水平上考察了这6个事件相关电位成分,以阐明不同情绪条件间的总平均波幅的差异是由单试次事件相关电位波幅的真实差异导致的,还是由不同试次间事件相关电位成分潜伏期的抖动导致的.研究结果发现,单试次的P1,N170,VPP,N3和P3成分都存在波幅差异,这表明不同表情条件间的总平均事件相关电位幅度的大部分差异来源于不同表情条件的单试次事件相关电位幅度的差异.这些单试次事件相关电位结果表明,面孔表情加工的三阶段模型不仅适用于传统的多试次平均事件相关电位数据,基于单试次事件相关电位的分析也证明了,面孔表情加工可分为"恐惧偏向"、"情绪与非情绪表情分离"及"不同情绪表情完全分离"3个阶段.
出处
《中国科学：生命科学》
CSCD
北大核心
2013年第8期643-656,共14页
Scientia Sinica(Vitae)
基金
国家自然科学基金重点项目(批准号:91132704)
国家自然科学基金(批准号:31170984
31000503)
国家重点基础研究发展计划(批准号:2011CB711000)资助
